放射温度計のJCSS校正(本社)

‐40 ℃~400 ℃では、放射率0.95の放射温度計の校正が可能です。

対象測定器

赤外放射温度計 波長 約 8 µm~14 µm   一般校正 又は JAB校正

可視・近赤外放射温度計 波長 0.65 µm、0.9 µm等 一般校正 又は JCSS校正

校正測定能力

種類 放射率 校正範囲 拡張不確かさ(信頼の水準 約95 %)
JAB校正 1 ‐40 ℃以上
500 ℃以下
別パンフレット「赤外放射温度計のJAB校正」をご参照ください
0.95 ‐40 ℃以上
400 ℃以下
JCSS校正 ※1 1 400 ℃以上
2000 ℃以下
0.7 ℃~2.3 ℃
一般校正 1 ‐40 ℃以上
200 ℃以下
2.0 ℃
200 ℃超過
2000 ℃以下 ※2
3.0 ℃~5.0 ℃
0.95 ‐40 ℃以上
200 ℃以下
2.0 ℃
200 ℃超過
400 ℃以下
3.0 ℃

※1 JCSS校正は、シリコンタイプの検出素子が対象となります。
※2 赤外放射温度計の校正温度上限は1600 ℃となります。

校正条件等

種類 放射率 校正範囲 標的サイズ 測定距離
JAB校正 別パンフレット「赤外放射温度計のJAB校正」をご参照ください
JCSS校正 1 400 ℃以上
1600 ℃以下
25 mm以下 300 mm以上
1000 mm以下
1 1600 ℃超過
2000 ℃以下
10 mm以下 450 mm以上
1000 mm以下
一般校正 1 ‐40 ℃以上
2000 ℃以下
要相談
0.95 ‐40 ℃以上
400 ℃以下

お問い合わせの際は、放射温度計の測定波長、測定距離、及び標的サイズをお知らせください。

校正条件等

校正のご利用方法

校正のご利用方法

 

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