本社における膜厚計の一般校正業務開始のお知らせ

JEMIC本社におきまして、膜厚計の一般校正が可能となりましたので、お知らせいたします。是非ご利用ください。

 

校正範囲及び校正精度

校正点は以下のとおりとなりますが、校正に使用する標準板は校正点と同値ではなく、実測した近似値のものとなります。

種類 校正精度 ご案内
10 µm、25 µm、37 µm、50 µm、
75 µm、100 µm、125 µm、250 µm、
300 µm、350 µm、500 µm、700 µm、
800 µm、1000 µm、1500 µm
±2.0 µm~±60 µm

※校正点により異なります。

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 注意事項

  • (1)センサの方式または形名をお知らせください。
  • (2)取り扱い説明書の提出をお願いいたします。
  • (3)調整は当所保有の標準板を使用しますが、お客様の指示がある場合はご相談ください。
  • (4)アナログタイプの膜厚計の校正はお取り扱いしておりません。

お問い合わせ先

本社 標準部 校正サービスグループ

TEL:03-3451-6760 FAX:03-3451-6910

E-mail:kousei-info@jemic.go.jp

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