本社における外側マイクロメータの一般校正範囲拡張について

JEMIC本社の長さ区分におきまして、外側マイクロメータの一般校正について300 mmまで校正範囲を拡張いたしましたので、お知らせいたします。替アンビル式外側マイクロメータにつきましても、対応いたします。是非ご利用ください。

 

校正範囲及び拡張不確かさ

                                                       PDFはこちら

校正場所 校正範囲 拡張不確かさ
( 信頼の水準約95 % )
恒久的施設校正 100 mm超過 300 mm以下 14 µm
  • ・セット校正を用意しています。
  • ・替アンビル式外側マイクロメータにつきまして
  • 外側マイクロメータと組み合せ、最小の測定範囲でのセット校正を行います。
    替アンビルの2本目以降は、基点誤差のみの測定になります。

お問い合わせ先

本社 標準部 校正サービスグループ

TEL:03-3451-6760 FAX:03-3451-6910

E-mail:kousei-info@jemic.go.jp

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