長さの校正

ブロックゲージ校正

  • JCSS
  • length10

長さを測定する器具の校正を行う際、基準となる値を供給する硬度の高い直方体のブロックです。主に8個から112個のセットが用いられます。

  • ブロックゲージ
JCSS校正

0級以下:0.5 mm以上 250 mm以下

(提出校正のみ)

ノギス校正

  • nomal
  • JCSS
  • btrip
  • set
  • length1
  • length2

画像提供:(株)ミツトヨ

一般的な長さ測定器です。
外径、内径、深さ、段差幅の4種類の長さを測定できます。
ノギスの校正は、外側測定と内側測定について、標準器をノギスで測定し、指示誤差を算出します。

  • ノギス

(その他機器についてもお気軽にお問合せください)

  • 指示誤差
JCSS校正

600 mm以下(巡回校正可能)

一般校正

600 mm超過 1000mm以下(本社)

600 mm以下(中部支社・関西支社・九州支社)

  • キャリパチェッカ

ハイトゲージ校正

  • nomal
  • JCSS
  • btrip
  • set
  • length3
  • length4

画像提供:(株)ミツトヨ

高さを測定する長さ測定器です。

ハイトゲージの校正は、標準器をハイトゲージで測定し、指示誤差を算出します。

  • ハイトゲージ

(その他機器についてもお気軽にお問合せください)

  • 指示誤差
JCSS校正

600 mm以下(巡回校正可能)

  • キャリパチェッカ
 

外側マイクロメータ校正

  • nomal
  • JCSS
  • btrip
  • set
  • length5
  • length6

画像提供:(株)ミツトヨ

ノギスより精密な測定器で、1マイクロメートルの単位まで長さを測定できる長さ測定器です。

外側マイクロメータの校正は、標準器を外側マイクロメータで測定し、指示誤差を算出します。

  • 外側マイクロメータ

(その他機器についてもお気軽にお問合せください)

  • 指示誤差
JCSS校正

100 mm以下(巡回校正可能)

一般校正

25 mm以下(中部支社・関西支社・九州支社でも可能)

  • ブロックゲージ

内側マイクロメータ校正

  • nomal
  • btrip
  • set

ノギスより精密な測定器で、1マイクロメートルの単位まで長さを測定できる長さ測定器です。

内側マイクロメータの校正は、標準器を内側マイクロメータで測定し、指示誤差を算出します。

  • 内側マイクロメータ

(その他機器についてもお気軽にお問合せください)

  • 指示誤差
一般校正

5 mm超過 600 mm以下

  • ブロックゲージ
  • 内側マイクロチェッカ

ダイヤルゲージ類校正

  • nomal
  • JCSS
  • btrip
  • set
  • length7
  • length7
  • length7

画像提供:(株)ミツトヨ

短い長さを測定できる測定器であり、基準との差を測定する比較器です。

測定にはスタンド等の治具が必要です。

ダイヤルゲージの校正は、JIS規格に定められた測定点の行き方向と戻り方向について指示誤差を測定します。また、測定した指示誤差から、「特定の測定長さにおける指示誤差」及び「戻り誤差」を算出します。

  • ダイヤルゲージ
  • てこ式ダイヤルゲージ(テストインジケータ)
  • デジタルインジケータ

(その他機器についてもお気軽にお問合せください)

  • 指示誤差
  • 特定の測定長さにおける指示誤差
  • 戻り誤差
JCSS校正

100 mm以下(提出校正可能)

25 mm以下(巡回校正可能)

一般校正

1.6 mm以下(巡回校正可能)

JCSS校正

0.8 mm以下(巡回校正可能)

  • ダイヤルゲージ校正器

デプスゲージ校正

  • nomal
  • btrip
  • set
  • length11
  • length12
  • length13

画像提供:(株)ミツトヨ

深さを測定する長さ測定器です。

短い長さを測定できる測デプスゲージの校正は、標準器をデプスゲージで測定し、指示誤差を算出します。

  • デプスゲージ
  • 指示誤差
一般校正

150 mm以下(巡回校正可能)

  • デプスマイクロチェッカ
  • ブロックゲージ

デプスマイクロメータ校正

  • nomal
  • btrip
  • set
  • length14

画像提供:(株)ミツトヨ

マイクロメートルの単位まで深さを測定する長さ測定器です。

デプスマイクロメータの校正は、標準器をデプスマイクロメータで測定し、指示誤差を算出します。

  • デプスマイクロメータ
  • 指示誤差
一般校正

150 mm以下(巡回校正可能)

  • デプスマイクロチェッカ
  • ブロックゲージ

シックネスゲージ(厚み測定器)校正

  • nomal
  • btrip
  • set
  • length15
  • length16

厚みを測定するダイヤルゲージ応用測定器です。。

シックネスゲージの校正は、標準器をシックネスゲージで測定し、指示誤差を算出します。

  • シックネスゲージ
  • 指示誤差
JCSS校正

50 mm以下(提出校正可能)

25 mm以下(巡回校正可能)

  • ブロックゲージ

膜厚計校正

  • nomal
  • length18

膜厚計とは、塗装やメッキ・コーティングによる皮膜の厚さを測定する測定器です。

校正には当所の保有する膜厚板を使用するため、校正点と同値ではなく実測した近似値となります。

  • 膜厚計(電磁誘導式、渦電流式(高周波式))
  • 指示誤差
一般校正

10 µm、25 µm、37 µm、50 µm、75 µm、100 µm、125 µm、250 µm、

300 µm、350 µm、500 µm、700 µm、800 µm、1000 µm、1500 µm

  • 膜厚板

お問い合わせ先

本社 標準部 校正サービスグループ

TEL:03-3451-6760 FAX:03-3451-6910

E-mail:kousei-info@jemic.go.jp

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