デプスゲージ等校正開始のお知らせ

JEMICでは,デプスゲージデプスマイクロメータシックネスゲージの校正を新たに開始しました。是非ご利用ください。

デプスゲージ

校正内容 校正範囲 校正の不確かさ(k = 2)
器差(提出校正) 150 mm以下 0.03 mm
器差(巡回校正) 150 mm以下 0.04 mm

例:(セット校正※)2,000円(校正証明書を含む。税別)
※ 当所が選定した校正点について,校正を行います。

デプスマイクロメータ

校正内容 校正範囲 校正の不確かさ(k = 2)
器差 25 mm以下 5 μm

例:(セット校正※)3,600円(校正証明書を含む。税別)
※ 当所が選定した校正点について,校正を行います。

シックネスゲージ

校正内容 校正範囲 校正の不確かさ(k = 2)
器差 50 mm以下 0.010 mm

例:(セット校正※)2,400円(校正証明書を含む。税別)
※ 当所が選定した校正点について,校正を行います。

お問い合わせ先

本社 標準部 校正サービスグループ
TEL:03-3451-6760 FAX:03-3451-6910
E-mail: kousei-info@jemic.go.jp

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